Wissenschaftliche Laufbahn und Forschungsgebiete

Die Forschungsaktivitäten von Prof. Krischer umfassen Fragestellungen der Selbstorganisation in physikalischen und physiko-chemischen Systemen sowie der Elektrokatalyse. Schwerpunkte sind effiziente photoelektrochemische und elektrokatalytische Energiewandlung sowie universelle Mechanismen von Strukturbildungsprozessen in Nichtgleichgewichtssystemen.

Nach dem Studium an der FU Berlin und der LMU  München war  Prof. Krischer wissenschaftliche Assistentin am  Fritz-Haber-Institut Berlin (Prof. Ertl). Nach Ihrer Promotion forschte sie als Postdoktorandin ein Jahr an der Princeton University, USA, und kehrte anschliessend als Habilitandin an das Fritz-Haber-Institut zurück. Seit 2002 leitet sie das Fachgebiet Technische Physik an der TUM. Sie engagiert sich u.a. in der Studienstiftung des deutschen Volkes und koordiniert das Graduiertenprogramm des Exzellenzclusters Nanosystems Initiative Munich.

Wichtigste Auszeichnungen

  • deGruyter Award of the Berlin-Brandenburgischen Akademie der Wissenschaften (1998)
  • ADUC-Jahrespreis für Habilitanden (1996)
  • Otto-Hahn-Medaille of the Max-Planck-Gesellschaft (1991)
  • Stipendiatin der Studienstiftung des deutschen Volkes (1983)

García-Morales V, Krischer K: “Fluctuation enhanced electrochemical reaction rates at the nanoscale”.  Proc. Natl. Acad. Sci. 2010; 107: 4528-4532.

Abstract

Krischer K Savinova ER: “Fundamentals of electrocatalysis “. In: Handbook of Heterogeneous Catalysis. Editors: Ertl G, Knözinger H, Schüth F, Weitkamp J. 2008; 1873-1905.

Abstract

Krischer K:  ”Nonlinear dynamics in electrochemical systems”. In:  Advances in Electrochemical Science and Engineering Vol. 8. Editors:  Alkire RC, KolbDM. 2003; 89-208.

Abstract

Li JL, Oslonovitch L, Mazouz N, PlengeF, Krischer K, Ertl G: “Turing-type patterns on electrode surfaces”. Science. 2001; 291: 2395-2398.

Abstract

Flätgen G, Krischer K, Pettinger B, Doblhofer K, Junkes H, Ertl G: “Two-dimensional imaging of potential waves in electrochemical systems by surface-plasmon microscopy”. Science. 1995; 269: 668-671.

Abstract