Prof. Dr.-Ing. Alexander W. Koch
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Wissenschaftliche Laufbahn und Forschungsgebiete
Die Forschungsschwerpunkte von Prof. Koch (*1958) umfassen optomechatronische Messsysteme, Lasermesstechnik, faseroptische Sensoren, holographische Speckle-Interferometrie, Bild- und Sensordatenverarbeitung, Infrarot-Fourier-Spektroskopie, Umweltmesstechnik, Multisensorsysteme, und medizinische Messverfahren.
Prof. Koch studierte Elektrotechnik und Informationstechnik an der TUM und wurde 1988 an der Universität der Bundeswehr München promoviert. 1988-1992 war er Research Fellow der Max-Planck-Gesellschaft am Max-Planck-Institut für Plasmaphysik und habilitierte sich 1992 für das Fachgebiet Elektrophysik. Im gleichen Jahr folgte er einem Ruf auf die Professur für Messtechnik an die Universität des Saarlandes. Seit 1998 ist Prof. Koch Ordinarius für Messsystem- und Sensortechnik an der TUM. Die Lehre konzentriert sich auf die Gebiete der Sensortechnik, der photonischen Messsysteme sowie der Laser-gestützten Messverfahren, regelmäßig auch am German Institute for Science and Technology, GIST-TUM ASIA in Singapur.
Wichtigste Auszeichnungen
- Ehrendoktorwürde der Technischen Universität Iasi, Rumänien (2009)
- Persönlich Förderndes Mitglied der Max-Planck-Gesellschaft (1996)
Schlüsselpublikationen (alle Publikationen)
Mueller U, Baier H, Mueller M, Koch AW: "Vibration and Shape Control in Opto-mechanical Systems Using Distributed Fiber-optic Bragg Grating Sensors". Journal of Vibration and Control. 2010; 16(4): 539-553.
AbstractHirth F, Buck T, Pérez-Grassi A, Koch AW: "Depth-sensitive Thin Film Reflectometer". Measurement Science and Technology. 2010; 21(12): 125301.
AbstractMueller MS, Hoffmann L, Sandmair A, Koch AW: "Full Strain Tensor Treatment of Fiber Bragg Grating Sensors". IEEE J. Quantum Electronics. 2009; 45(5): 547-553.
AbstractKoch AW: "Speckle Measurement Techniques for Surface Analysis". In: Speckle Photography and Speckle Interferometry and their Applications to Mechanic Solid Problems. Editor: Salazar F. 2008.
AbstractKoch AW; Ruprecht MW, Toedter O, Häusler G: Optische Messtechnik an technischen Oberflächen. Renningen-Malmsheim: Expert-Verlag, 1998.
Abstract